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阻抗分析儀測(cè)介電常數(shù)
時(shí)間:2020-11-09瀏覽量：0
文章詳情
阻抗分析儀測(cè)介電常數(shù)
LCR表和阻抗分析儀測(cè)量介電常數(shù)和導(dǎo)磁率的解決方案，這方案是騰斯凱行業(yè)內(nèi)的先進(jìn)經(jīng)驗(yàn)介紹。
近年來(lái)，電子設(shè)備技術(shù)獲得了蓬勃發(fā)展，而這也使得電子元器件的材料特征成為決定電路特性的關(guān)鍵因素。例如，在制造數(shù)字(媒體) 設(shè)備中常用的高容量多層片式陶瓷電容器(MLCC) 時(shí)，必須要采用高 κ 值(介電常數(shù)) 材料。此外，在選擇材料之前還必須執(zhí)行各項(xiàng)電氣性能驗(yàn)證，例如頻率和溫度響應(yīng)。
在電子設(shè)備以外的其他領(lǐng)域，對(duì)材料的電氣特征進(jìn)行測(cè)試也變得越來(lái)越普遍，因?yàn)椴牧系某煞趾突瘜W(xué)變量(例如固體和液體)可能會(huì)用電氣特征響應(yīng)取代性能參數(shù)。
阻抗分析儀測(cè)介電常數(shù)
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